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  • 镀层厚度分析仪

    X荧光光谱镀层测厚仪,型号:XRF-D8,标配美国进口SDD探测器,测试范围:镁Mg-铀U.镀层分析厚度范围:0.0035um--40um。

    型号: XRF-D8 所在地:深圳市参考价: 面议更新时间:2017/8/12 11:22:26 对比
    119000镀层厚度分析仪
  • 金属镀层厚度分析仪

    金属镀层厚度分析仪标配美国进口新一代SI-P探测仪,测试范围:硫S-铀U.镀层分析厚度范围:0.0035um--40um。

    型号: XRF-D7 所在地:深圳市参考价: 面议更新时间:2017/8/12 11:21:07 对比
    119000镀层厚度分析仪

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